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Final Test (FT)
最終測試(FT)
是IC 封裝後之重要測試介面，主要功能為承載IC 之載體，當晶圓進行切割、黏晶、焊線等製程，並以塑膠、陶瓷、金屬等材料包覆後，須再次測試良率。
CHPT BY AI
從設計到售後，中華精測一站式解決您的測試需求
整合設計、製造、組裝及售後服務，提供客戶更便捷的聯繫窗口，快速回覆客戶需求。
透過技術、產能、行銷及服務之互相支援，創造最大的綜效。
6 STEPS
01
R&D
02
DESIGN
03
PCB
04
PCBA
05
ASSEMBLY
06
SERVICE
ABOUT CHPT
關於中華精測
晶圓測試卡及IC測試板之研發
CHPT為全球少數兼具研發及製造晶圓級測試探針的半導體測試介面廠，致力突破傳統框架，攜手客戶共同開發半導體先進測試介面技術，成功建構獨樹一格的All In House商業模式，助力客戶在日新月異的半導體產業裡迅速推陳出新，共創雙贏。
WHY CHPT
- 自行開發探針生產設備，更掌握探針材料
- 自製IC測試專用PCB及ST
- AI演算法導入探針卡之設計
- 高性能、高可靠度及長壽命的探針卡
