2024.Aug.05
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2024 SEMICON TAIWAN国际半导体展_2024/9/04-9/06

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中华精测于202494()96(),于南港展览馆11F I2616 摊位展出AI应用之探针卡与 112Gbps IC晶圆测试板。在技术论坛方面,中华精测受主办单位「Advanced Testing Forum」之邀,于先进测试技术论坛分享「A 64GT/s High-Speed Probe Card for PCIe Gen6 PAM4 Test」之研究成果,论坛内容精彩丰富不容错过。诚挚邀请您至我们的摊位进行交流。

 

 

【技术论坛】

时间/地点:2024年9月5日(四) 上午10:30-10:55 / 南港展览馆1馆4F,401

题目:A 64GT/s High-Speed Probe Card for PCIe Gen6 PAM4 Test

主讲人:陈永维博士 

 

【摊位位置】

I 区入口,主走道直走至中间位置,右转即可找到 I2616 摊位。

 

 

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